CDM測試儀

產(chǎn)品簡介
日本TET東京電子株式會社 ESD1100系列
CDM測試儀測試機臺陣容有：
●1100-ESD（ESD試驗專用型號）
●1100-CDM （CDM試驗專用型號）
●1100-LUP （LATCH UP閂鎖試驗專用型號）

產(chǎn)品型號：1100-ESD/CDM/LUP

更新時間：2025-05-15

廠商性質(zhì)：代理商

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

射頻測試儀器

安立Anritsu

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品牌	TET	應(yīng)用領(lǐng)域	能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,綜合

　　日本TET東京電子交易株式會社 ESD1100系列共分為3個型號，分別是：

　　●1100-ESD(ESD試驗專用型號)

　　●1100-CDM (CDM試驗專用型號)

　　●1100-LUP (LATCH UP閂鎖試驗專用型號)

　　CDM測試儀可廣泛應(yīng)用于器件的開發(fā)設(shè)計評價、認證接收檢查、品保評價、操作環(huán)境評價等各種試驗用途。

　　ESD試驗是測試靜電放電干擾(ESD脈沖)和器件破損之間的關(guān)系。ESD干擾有HBM(人體帶電模型)和MM(機械帶電模型)兩種。Model 1100-ESD可以進行這兩種干擾的測試。另外，還可以通過選件，追加想要進行的ESD測試。可以對64 pin器件進行全自動的滿足標準的全引腳組合的測試。另外，帶有簡單的進行ESD波形自動測試的軟件，準備好示波器、電流探頭、衰減器后，可以確認滿足標準的波形，安心的進行ESD試驗。

　　CDM測試儀本機臺在三軸構(gòu)造的機械手上裝配HBM或MM的ESD發(fā)生模塊(EPG模塊)，可進行滿足國內(nèi)外標準的ESD試驗。

　　CDM試驗有感應(yīng)充電法(FI-CDM)和直接充電法(DI-CDM)兩種。兩種的區(qū)別是給器件充電的方法不同，但都是模擬充電好的器件引腳和金屬接觸時的干擾。本試驗裝置這兩種充電方式都可以進行試驗。

　　LUP閂鎖試驗是測試由于外來噪聲(觸發(fā)源)引起的器件閂鎖抗擾度。本裝置裝備了電流脈沖、電源過電壓脈沖作為觸發(fā)源。閂鎖現(xiàn)象通過施加觸發(fā)后電源電流的增加來判定。為了獲得穩(wěn)定的試驗結(jié)果，可能需要提供上拉/下拉以穩(wěn)定Inom，本裝備通過專用的夾具板，用跳線連接。

　　*可通過聯(lián)系我們咨詢或自行根據(jù)希望的用途來選擇型號*

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